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DYSK 纳米粒度Zeta电位分析仪 价格: 编号:NANOTRAC WAVE II

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主要特点:

• 采用先进的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱法

• “Y”型光纤光路系统,通过蓝宝石测量窗口,直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布,在加载电流的情况下,与膜电极对应产生微电场,测量同一体系的Zeta电位, 避免样品交叉污染与浓度变化。

• 异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性。

• 可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度。

• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。

• 快速傅利叶变换算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间。

• 膜电极设计,避免产生热效应,能准确测量颗粒电泳速度。

• 无需比色皿,毛细管电泳池或外加电极池,仅需点击Zeta电位操作键,一分钟内即可得到分析结果

• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的折射与污染,分散介质的影响,多重散射的衰减等,提高灵敏度。


粒度分析范围:0.3nm-10μm 

重现性误差:≤1% 

浓度范围:100ppb-40%w/v 

检测角度:180° 

分析时间:30-120秒 

准确性:全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子 

测量精度:无需预选,依据实际测量结果,自动生成单峰/多峰分布结果 

理论设计温度:0-90℃,可以进行程序升温或降温 

兼容性:水相和有机相